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離子研磨測試,材料CP檢測

簡(jiǎn)要描述:電子元器件失效分析經(jīng)常用到的檢查分析方法簡(jiǎn)單可以歸類(lèi)為無(wú)損分析、有損分析。有損分析就是對器件進(jìn)行各種微觀(guān)解剖分析,其首要要求就是在避免人為損傷的前提下,展現內部缺陷形貌。離子研磨(CP)測試是切片制樣技術(shù)常用到的先進(jìn)輔助技術(shù)。廣電計量提供離子研磨測試,材料CP檢測服務(wù)。

  • 廠(chǎng)商性質(zhì):工程商
  • 更新時(shí)間:2024-03-13
  • 訪(fǎng)問(wèn)次數:506

詳細介紹

品牌廣電計量服務(wù)范圍全國
服務(wù)資質(zhì)CMA/CNAS服務(wù)周期常規5-7個(gè)工作日
服務(wù)費用視具體項目而定

服務(wù)內容

廣電計量離子研磨測試,材料CP檢測服務(wù)是在真空條件下,離子槍中低壓惰性氣體(氬)離子化,出射的陽(yáng)離子又經(jīng)加速,獲得具有一定速度的離子束投射到樣品表面,由于離子帶正電荷,其質(zhì)量比電子大數千、數萬(wàn)倍,所以離子束比電子束具有更大的撞擊動(dòng)能,靠微觀(guān)的機械撞擊能量加工樣品。廣電計量擁有優(yōu)質(zhì)檢測設備,提供一站式離子研磨(CP)測試服務(wù)。

服務(wù)范圍

廣電計量離子研磨測試,材料CP檢測服務(wù)主要用于半導體材料、電池電極材料、光伏材料、不同硬度合金、巖石礦物質(zhì)、高分子聚合物、軟硬復合材料、多元素組成材料等的截面制樣、界面表征。

檢測項目

離子研磨能實(shí)現無(wú)應力的橫截面和幾乎所有材料刨面,揭示了樣品的內部結構同時(shí)限度地減少變形或損壞,即的截面制樣、界面表征。

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

測試周期

常規5-7個(gè)工作日,可加急

服務(wù)背景

離子研磨通過(guò)氬離子束物理轟擊樣品,達到切割或表面拋光的作用。為什么要進(jìn)行表面拋光?那是因為在對精細電子元器件切片的時(shí)候,往往會(huì )因為切片造成了金屬延展、顆粒物填充等情況,對后續的檢查帶來(lái)不利影響。而這些就是前文提到的人為損害。因此,我們對樣片進(jìn)行表面拋光,可以在減免人為損傷的前提下,展現內部缺陷形貌。

我們的優(yōu)勢

1、配合工信部牽頭“面向集成電路、芯片產(chǎn)業(yè)的公共服務(wù)平臺建設項目"“面向制造業(yè)的傳感器等關(guān)鍵元器件創(chuàng )新成果產(chǎn)業(yè)化公共服務(wù)平臺"等多個(gè)項目。

2、在集成電路及SiC領(lǐng)域是技術(shù)能力全面的第三方檢測機構之一,已完成MCU、AI芯片、安全芯片等上百個(gè)型號的芯片驗證。

3、在車(chē)規領(lǐng)域擁有AEC-Q及AQG324服務(wù)能力,獲得了近50家車(chē)廠(chǎng)的認可,出具近300份AEC-Q及AQG324報告,助力100多款車(chē)規元器件量產(chǎn)。




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