亚洲成人免费毛片在线看-久久九九亚洲中文字幕宅男-一区二区三区在线|日韩-日本美女内射精久久久久

您好!歡迎訪(fǎng)問(wèn)廣電計量檢測集團股份有限公司網(wǎng)站!
全國服務(wù)咨詢(xún)熱線(xiàn):

15360494010

當前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 元器件篩選及失效分析 > AEC-Q認證測試 > AEC-Q100認證試驗,車(chē)規級認證 材料檢測服務(wù)

AEC-Q100認證試驗,車(chē)規級認證 材料檢測服務(wù)

簡(jiǎn)要描述:AEC-Q100認證試驗,車(chē)規級認證:廣電計量失效分析實(shí)驗室AEC-Q技術(shù)團隊,執行過(guò)大量的AEC-Q測試案例,積累了豐富的認證試驗經(jīng)驗,可為您提供更專(zhuān)業(yè)、更可靠的AEC-Q認證試驗服務(wù)。

  • 廠(chǎng)商性質(zhì):工程商
  • 更新時(shí)間:2024-03-14
  • 訪(fǎng)問(wèn)次數:408

詳細介紹

品牌廣電計量服務(wù)區域全國
服務(wù)周期3-4個(gè)月,提供全面的認證計劃、測試等服務(wù)發(fā)票可提供
報告類(lèi)型中英文電子/紙質(zhì)報告

服務(wù)背景

AEC-Q100認證試驗,車(chē)規級認證:IC作為重要的車(chē)載元器件部件,是AEC委員會(huì )持續關(guān)注的重點(diǎn)領(lǐng)域。AEC-Q100對IC的可靠性測試可細分為加速環(huán)境應力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學(xué)參數驗證、缺陷篩查、包裝完整性試驗,且需要根據器件所能承受的溫度等級選擇測試條件。需要注意的是,第三方難以獨立完成AEC-Q100的驗證,需要晶圓供應商、封測廠(chǎng)配合完成,這更加考驗對認證試驗的整體把控能力。廣電計量將根據客戶(hù)的要求,依據標準對客戶(hù)的IC進(jìn)行評估,出具合理的認證方案,從而助力IC的可靠性認證。

廣電計量失效分析實(shí)驗室AEC-Q技術(shù)團隊,執行過(guò)大量的AEC-Q測試案例,積累了豐富的認證試驗經(jīng)驗,可為您提供更專(zhuān)業(yè)、更可靠的AEC-Q認證試驗服務(wù)。
產(chǎn)品范圍
AEC-Q100認證試驗,車(chē)規級認證:I集成電路(IC)

測試周期

3-4個(gè)月,提供全面的認證計劃、測試等服務(wù)

測試項目

序號測試項目縮寫(xiě)樣品數/批批數測試方法
A組 加速環(huán)境應力試驗
A1PreconditioningPC773J-STD-020、
JESD22-A113
A2Temperature-Humidity-BiasTHB773JESD22-A101
Biased HASTHASTJESD22-A110
A3AutoclaveAC773JESD22-A102
Unbiased HASTUHSTJESD22-A118
Temperature-Humidity (without Bias)THJESD22-A101
A4Temperature CyclingTC773JESD22-A104、Appendix 3
A5Power Temperature CyclingPTC451JESD22-A105
A6High Temperature Storage LifeHSTL451JESD22-A103
B組 加速壽命模擬試驗
B1High Temperature Operating LifeHTOL773JESD22-A108
B2Early Life Failure RateELFR8003AEC-Q100-008
B3NVM Endurance, Data Retention, and Operational LifeEDR773AEC-Q100-005
C組 封裝完整性測試
C1Wire Bond ShearWBS最少5個(gè)器件中的30根鍵合線(xiàn)AEC-Q100-001、AEC-Q003
C2Wire Bond PullWBPMIL-STD883 method 2011、
AEC-Q003
C3SolderabilitySD151JESD22-B102或 J-STD-002D
C4Physical DimensionsPD103JESD22-B100、 JESD22-B108
AEC-Q003
C5Solder Ball ShearSBS至少10個(gè)器件的5個(gè)鍵合球3AEC-Q100-010、
AEC-Q003
C6Lead IntegrityLI至少5個(gè)器件的10根引線(xiàn)1JESD22-B105
D組 晶圓制造可靠性測試
D1ElectromigrationEM///
D2Time Dependent Dielectric BreakdownTDDB///
D3Hot Carrier InjectionHCI///
D4Negative Bias Temperature InstabilityNBTI///
D5Stress MigrationSM///
E組 電學(xué)驗證測試
E1Pre- and Post-Stress Function/ParameterTEST所有要求做電學(xué)測試的應力試驗的全部樣品供應商或用戶(hù)規格
E2Electrostatic Discharge Human Body ModelHBM參考測試規范1AEC-Q100-002
E3Electrostatic Discharge Charged Device ModelCDM參考測試規范1AEC-Q100-011
E4Latch-UpLU61AEC-Q100-004
E5Electrical DistributionsED303AEC Q100-009
AEC Q003
E6Fault GradingFG--AEC-Q100-007
E7CharacterizationCHAR--AEC-Q003
E9Electromagnetic CompatibilityEMC11SAE J1752/3-輻射
E10Short Circuit CharacterizationSC103AEC-Q100-012
E11Soft Error RateSER31JEDEC
無(wú)加速:JESD89-1
加速:JESD89-2或JESD89-3
E12Lead (Pb) FreeLF參考測試規范參考測試規范AEC-Q005
F組 缺陷篩選測試
F1Process Average TestingPAT//AEC-Q001
F2Statistical Bin/Yield AnalysisSBA//AEC-Q002
G組 密封封裝完整性測試
G1Mechanical ShockMS151JESD22-B104
G2Variable Frequency VibrationVFV151JESD22-B103
G3Constant AccelerationCA151MIL-STD883 Method 2001
G4Gross/Fine LeakGFL151MIL-STD883 Method 1014
G5Package DropDROP51/
G6Lid TorqueLT51MIL-STD883 Method 2024
G7Die ShearDS51MIL-STD883 Method 2019
G8Internal Water VaporIWV51MIL-STD883 Method 1018


產(chǎn)品咨詢(xún)

留言框

  • 產(chǎn)品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯(lián)系電話(huà):

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說(shuō)明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫(xiě)阿拉伯數字),如:三加四=7
掃一掃,關(guān)注微信
地址:廣州市天河區黃埔大道西平云路163號 傳真:020-38698685
©2024 廣電計量檢測集團股份有限公司 版權所有 All Rights Reserved.  備案號:粵ICP備11014689號